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GBW13965二氧化硅納米薄膜厚度標準物質(zhì),GBW13965二氧化硅納米薄膜厚度標準樣
發(fā)布時間：2019/11/27 6:33:43 瀏覽次數(shù)：664
GBW13965二氧化硅納米薄膜厚度標準物質(zhì),GBW13965二氧化硅納米薄膜厚度標準樣
英文名稱 CRMs for Thickness of SiO2 Nanosized Thin Layers 標準物質(zhì)證書英文
應用領域 物理學與物理化學/光學特性 保存條件 貯存在陰涼干燥的室溫環(huán)境條件下 使用注意事項 運輸過程中必須保持包裝的完整，使用過程中必須保持樣品表面清潔 特征形態(tài) 固態(tài) 基體
主要分析方法 掠入射X射線反射測量和橢偏測量# 規(guī)格 每盒1片 量值信息
標準值 不確定度 單位 CAS 備注 二氧化硅納米薄膜厚度 9.92 0.40 nm
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