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GBW13967二氧化硅納米薄膜厚度分析樣,GBW13967二氧化硅納米薄膜厚度標(biāo)準(zhǔn)值
發(fā)布時(shí)間:2019/12/4 8:37:36 瀏覽次數(shù):634
GBW13967二氧化硅納米薄膜厚度分析樣主要用于物理學(xué)與物理化學(xué)/光學(xué)特性,貯存在陰涼干燥的室溫環(huán)境條件下,運(yùn)輸過程中必須保持包裝的完整,使用過程中必須保持樣品表面清潔,主要分析方法是掠入射X射線反射測(cè)量和橢偏測(cè)量,每盒1片,量值信息如下:
量值信息
標(biāo)準(zhǔn)值 不確定度 單位 CAS 備注 二氧化硅納米薄膜厚度 21.70 0.42 nm